Giảng viên

TS. Lê Thái Hà

Số lượng

30

Thời gian

4 tháng

Giấy chứng nhận

Có

Lý thuyết

16 giờ

Thực hành

16 giờ

Tên khóa học: Design For Test Basic

Mã số: DFTB

Nội dung đào tạo

Introduction – 2 lectures
Scan Testing – 4 lectures
Built-in Self Testing – 5 lectures
Boundary Scan Testing – 5 lectures

Mục đích đào tạo

Học viên hiểu được vai trò và các bước cơ bản thiết kế DFT.

Tài liệu tham khảo

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Đăng ký ngay

Họ và tên

Email

Số điện thoại

Chương trình học

Courses

✔
{{ course }}

Lời nhắn